Nuevo producto - 3nh TS70 Spectrocolorimeter
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Modelo
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TS7036
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TS7030
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TS7020
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TS7010
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Geometría óptica
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D/8 (iluminación, ángulo de visión difundidos de 8 grados)
Modo de SCI/SCE Cumpla a CIE No .15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 |
D/8 (iluminación, ángulo de visión difundidos de 8 grados)
Modo de SCI Cumpla a CIE No .15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724-1, ASTM E1164, DIN5033 Teil7 |
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Característica
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aberturas dobles, más adaptabilidad; Utilizado para la medida y el control de calidad exactos de color en electrónica plástica, pintura y
tinta, materia textil e impresión y teñido de la ropa, impresión, cerámica y otras industrias |
solas aberturas, más adaptabilidad; Utilizado para la medida y el control de calidad exactos de color en electrónica plástica, pintura y
tinta, materia textil e impresión y teñido de la ropa, impresión, cerámica y otras industrias |
Aberturas de Φ8mm, usadas para la medida y control de calidad exactos de color en electrónica plástica, pintura y tinta, materia textil y ropa
imprimiendo y teñiendo, el impresión, el cerámica y el otro industria |
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Tamaño de la esfera de integración
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Φ40mm
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Fuente de luz
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Fuente de luz completa combinada del espectro LED, fuente de la luz UV
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Fuente de luz completa combinada del espectro LED
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Modo espectrofotométrico
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Reja plana
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Senso
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Arsenal del fotodiodo del silicio (fila doble 32 grupos)
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Arsenal del fotodiodo del silicio (fila doble 24 grupos)
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Gama de longitud de onda
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400~700nm
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Intervalo de la longitud de onda
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10nm
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Anchura de Semiband
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10nm
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Gama medida de la reflexión
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L: 0~120; reflectividad: el 0~200%
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L: 0~100; reflectividad: La reflectividad se puede medir en 3 longitudes de onda específicas especificadas por el usuario (defecto: 440nm, 550nm,
600nm) |
L: 0~100; reflectividad: La reflectividad se puede medir en las longitudes de onda específicas 1 especificadas por el usuario (defecto: 550nm)
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Abertura de medición
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Aberturas duales: MAV: Φ8mm/Φ10mm; SAV: Φ4mm/Φ5mm
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Solas aberturas: Φ8mm/Φ10mm
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Φ8mm
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Componente especular
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SCI/SCE
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SCI
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Espacio de color
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LABORATORIO del CIE, XYZ, Yxy, LCh, AMOR del CIE, s-RGB, βxy, estruendo Lab9, estruendo Lab99 Munsell (C/2)
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LABORATORIO del CIE, XYZ, Yxy, LCh, s-RGB, βxy, Munsell (C/2)
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LABORATORIO del CIE, XYZ, Yxy, LCh
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Fórmula de la diferencia del color
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ΔE*ab, ΔE*uv, ΔE*94, ΔE*cmc (2: 1), ΔE*cmc (1: 1), ΔE*00, DINΔE99
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ΔE*ab, ΔE*94, ΔE*cmc (2: 1), ΔE*cmc (1: 1), ΔE*00, DINΔE99
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ΔE*ab, ΔE*00
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El otro índice colorimétrico
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WI (ASTM E313, CIE/ISO, AATCC, cazador),
YI (ASTM D1925, ASTM 313), Índice MI del metamerismo, Coloración de firmeza, firmeza de color, fuerza del color, opacidad, búsqueda de la tarjeta del color |
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Ángulo del observador
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2°/10°
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10°
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Iluminador
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D65, A, C, D50, D55, D75, F1, F2 (CWF), F3, F4, F5, F6, F7 (DLF), F8, F9, F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30)
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D65, A, C, D50, F2 (CWF), F7 (DLF), F10 (TPL5), F11 (TL84), F12 (TL83/U30)
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D65, A, F2 (CWF)
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Datos exhibidos
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El espectrograma/los valores, valores de la cromaticidad de las muestras, valores de la diferencia del color/representa gráficamente, resultado de PASS/FAIL, simulación del color, compensación del color
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La reflectividad (el usuario especifica la reflectividad en 3 longitudes de onda específicas), muestrea los valores de la cromaticidad, diferencia del color
Los valores/representan gráficamente, resultado de PASS/FAIL, simulación del color, compensación del color |
La reflectividad (el usuario especifica la reflectividad en las longitudes de onda específicas 1), muestrea los valores de la cromaticidad, diferencia del color
Los valores/representan gráficamente, resultado de PASS/FAIL, simulación del color, compensación del color |
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Exactitud exhibida
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0,01
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Exhibición 0,1, almacenamiento 0,01
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Tiempo de medición
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Sobre 1.5s (medida SCI y SCE sobre 3.2s)
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Sobre 1.5s
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Repetibilidad
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Valor de la cromaticidad: MAV/SCI, dentro de ΔE*ab 0,05 (cuando una placa blanca de la calibración se mide 30 veces en 5 segundos intervalos después
calibración blanca) |
Valor de la cromaticidad: MAV/SCI, dentro de ΔE*ab 0,06 (cuando una placa blanca de la calibración se mide 30 veces en 5 segundos intervalos después
calibración blanca) |
Valor de la cromaticidad: MAV/SCI, dentro de ΔE*ab 0,08 (cuando una placa blanca de la calibración se mide 30 veces en 5 segundos intervalos después
calibración blanca) |
Valor de la cromaticidad: MAV/SCI, dentro de ΔE*ab 0,1 (cuando una placa blanca de la calibración se mide 30 veces en 5 segundos intervalos después
calibración blanca) |
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error del Inter-instrumento
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MAV/SCI, dentro de ΔE*ab 0,3
(Media para 12 tejas del color de la serie II de BCRA) |
MAV/SCI, dentro de ΔE*ab 0,4
(Media para 12 tejas del color de la serie II de BCRA) |
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Modo de la medida
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Sola medida, medida media (2-99times)
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Localización de método
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Cámara que localiza, posición cruzada del estabilizador
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Posición cruzada del estabilizador
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Dimensión
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L*W*H=81X71X214mm
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Peso
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Sobre 460g
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Batería
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Batería li-ion, 6000 medidas en el plazo de 8 horas
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Vida luminosa
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5 años, más de 3 millones de medidas de las épocas
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Exhibición
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3.5-inch color TFT LCD, pantalla táctil capacitiva
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Puerto de los datos
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USB, Bluetooth 5,0
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USB
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Almacenamiento de datos
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1000 PC estándar, PC de la muestra 30000 (un datos pueden incluir SCI/SCE)
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1000 PC estándar, PC de la muestra 20000 (un datos pueden incluir SCI/SCE)
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500 PC estándar, PC de la muestra 10000
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